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[Engineering] 전자물리실험 - 부귀환 실험

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작성일 23-07-12 16:41

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- 대역폭에 따른 적절한 이득을 결정한다.

6. 표.1에 주어진 다른 R2의 값을 사용하여, 2~5번을 반복하여 표.1에 기록한다.

2. 오실로스코프의 출력저항 1.2kΩ의 양단에 연결하고, 주파수는 1kHz, 신호는 15VPP가 되도록 조정한다.

4. VOUT / VIN을 사용하여 폐회로이득을 계산하여 표.1에 기록한다.

`실.1 폐회로이득 측정(測定) test(실험) 회로`
R2[kΩ]
VOUT…(To be continued )

② 이득 - 대역폭 곱

③ 이득과 대역폭의 상관관계


[Engineering] 전자물리실험 - 부귀환 실험
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설명







다.
test(실험) 과정 및 결과
- test(실험) 장비 및 재료
전원공급장치 : DC 15V 전원 2대
측정(測定) 장비 : 오실로스코프, 함수 발생기
저항 : 1/2W, 100Ω, 100kΩ, 220kΩ 각 2개씩
반도체 : 741C 2개

① 폐회로 이득

test(실험) 과정

1. R2 〓 8.2kΩ을 사용하여 실.1의 회로를 연결한다.

3. 오실로스코프의 리드를 입력과 연결해서, 입력전압의 VPP값을 측정(測定) 하여 표.1에 기록한다.

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순서




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실험과제/물리
test(실험) 목적
- 폐회로의 전압이득을 측정(測定) 한다.
- 이득-대역폭 곱을 계산하기 위한 데이터를 얻는다.

5. 오실로스코프의 리드를 반전입력에 연결해, 입력전압의 VPP값을 측정(測定) 하여 표.1에 기록한다.

REPORT 11(sv76)



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