[레포트] 전자현미경 원리 및 시편준비
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작성일 23-09-24 11:12
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2. test(실험) 의 방법
-시험편의 준비여기서는 …(skip)
① 시험편의 절단
② 시험편의 연마(polishing)
③ 시험편의 단면의 손질(cleaning)
④ 시험편 단면의 부식(etching)
⑤ 시험편의 코팅
3. 전자현미경구조
4. 렌즈 수차
1) Chromatic aberration(색수차)
실험과제/기타
설명
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1. test(실험) 의 목적
재료의 표면을 현미경으로 observation하면 석출상이나 결정립의 크기 및 형상 등을 판단할 수 있다아 광학 현미경이 배율 X 2,000 이하의 이미지를 얻을 수 있는데 비해 일반적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을 수 있고, FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy)는 최고 X 500,000의 배율로도 재료를 observation 할 수 있다아주사전자현미경 사진을 통해 재료 단면형상의 observation, 분말의 입자 크기, 그 리고 박막재료의 두께 등을 알 수 있는데, 이에 따른 기계적 속성 變化(변화) 를 해석할 수 있게 된다 제작한 세라믹 재료의 표면형상 및 mean or average(평균) 결정립 크기를 주사전자현미경 사진 analysis(분석) 을 통해 측정(測定) 해봄으로써 주사전자현미 경에 대한 일반적인 이해를 얻는다.
