CS-AFM을 이용한 DNA의 전도성 측정(測定)
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작성일 22-12-06 21:04
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ss-DNA의 배열은 다음과 같다. 최근 cs-AFM을 이용하여 dithiol, B-carotene 등의 전도성을 측정(measurement)할 수 있었다.,공학기술,레포트
설명
레포트/공학기술
CS-AFM을 이용한 DNA의 전도성 측정에 대한 자료입니다. 또한 poly(dA)poly(dT)는 n-형 반도체 속성 을 나타내며, poly(dC)poly(dG)는 p-형 반도체 속성 을 나타낸다는 연구 결과도 발표되었다. cs-AFM은 AFM 탐침 부분을 금으로 코팅하여 전압-전류 곡선을 측정(measurement)하여 시료의 전도성을 구할 수 있따 이것은 AFM(atomic force microscopy)과 STM(scanning tunneling microscopy)의 長點을 모아놓은 것이라고 할 수 있따 이 방법은 시료에 가하는 힘을 정의(定義)할 수 있기 때문에 지금까지 발표된 여러 가지 결과들보다는 좀더 반복적이며, 믿을만한 결과를 보일 수 있을 것이다.
다. 같은 DNA를 측정(measurement)했음에도 불구하고 결과가 매우 다른 것은 test(실험) 방법의 차이 때문일것이다 특히 DNA와 전극 사이에서 나타나는 저항의 크기를 정의(定義)할 수 없기 때문일것이다 이러한 문제를 해결할 수 있는 것이 cs-AFM(current sensing atomic force microscopy)이다. 논문계획서CS-AFM을이용한DNA의전도성측정 , CS-AFM을 이용한 DNA의 전도성 측정공학기술레포트 ,
CS-AFM을 이용한 DNA의 전도성 측정(測定)
2. 연구目標(목표): CS-AFM을 이용하여 혼성화된 DNA의 전류-전압 곡선을 구하고, 비혼성화된 경우와 비교를 통해 DNA의 혼성화 정도를 확인할 수 있따
3. 연구배경: 현재까지 보고된 DNA 전도성에 관한 연구 결과에 의하면 DNA는 부도체, 도체, 초전도체 등의 성질을 띤다. 따라서 DNA가 혼성되었을 때에는 전류-전압 곡선을 통해 DNA의 전도성을 측정(measurement)할 수 있으며, 비혼성화 되었을 때의 전류-전압 곡선과 비교를 통해 DNA의 혼성화 정도를 확인할 수 있을 것이라고 예상된다
4. 연구계획:
1) 금 표면에 고정화된 DNA를 이용한 전도성 측정(measurement) 및 혼성화
(1) 금 표면에 ss-DNA 고정
mica위에 금을 증착시킨 후 수소 불꽃으로 annealing 하여 Au(111)을 형성한 후 사용한다. -SH 기를 포함하는 탄소 6개의 linker를…(투비컨티뉴드 )
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